Argh... Donc le principe du test de secteurs défecteux (séquence
de écritures/lectures) est inutilisable pour un puce flash, c'est juste ?
Si on se contente d'une seule écriture/lecture pour détecter un secteur
comme défectueux, cela devrait marcher si j'ai bien compris.
A moins qu'en interne, un rafraichissement régulier des blocs soit nécessaire
pour maintenir les données (le niveau électrique). Dans ce cas, pas d'issue...
Si j'ai bien compris, je peux continuer à utiliser la clef mais de temps en
temps, je tomberai à nouveau une fraction de la puce défectueuse et mon
fichier sera corrompu.
Comment faire pour éviter ces blocs et éviter la surprise d'un
fichier corrompu ?
Pour l'instant cela touche 25 secteurs logiques de 512 octets soit un peu
plus de 12 Ko. Sur 64 Mo, ce n'est pas la mort.
Personnellemnent, je verrai la ruse suivante: quand un bloc est détecté
défectueux, il faut l'associer à un fichier caché de la FAT
(sans modifier le bloc bien sûr) - à la main avec un éditeur hexa ;) -
pour éviter son recyclage.
Ensuite, en testant tous les blocs une seule fois,
peu importe leur association, j'ai 129280 blocs de 512,
je fais autant d'écriture/lecture et ça devrait être bon ?
on peut les lister dans les inodes du fichier caché en question.
Ça devrait marcher à condition que la granularité des blocs de la puce
soit bien de 512 octets... sinon cela devient vraiment casse-tête.
Fini le délire, je crois bien que je vais en acheter une autre 4 ou 8 fois
plus grosse et 3/4 fois moins cher que l'actuelle.
